R3764CH-R3764CH-R3764CH

R3765CH-R3765CH-R3765CH

R3764CH-R3764CH-R3764CH愛得萬網絡分析儀功能介紹：

R3764/3765系列網絡分析儀可以進行10kHz RBW（IF帶寬）的0.25ms/點的快速測量。R3764系列可以作為一個系統的組成部分，而R3765系列可應用于生產線或工程中。每一系列包括三種型號：A型（基本型），B型（內置電橋）和C型（內置S參數測試裝置）。由于使用熒光特性顯象管的簡單結構，R3764系列的價格相對比較便宜，而R3765系列采用獨立的分析儀功能和容易讀數的7.8英寸大TFT彩色LCD顯示，所以很容易進行數據比較和模式分析。內置的BASIC控制器功能、并行I/O功能和條碼輸入功能，使它很容易完成測量、分析和評估以及建立一個高速ATE（自動測試裝置）系統。因此，R3764/3765系列在使用標準FDD格式（720K，1.2M和1.44M字節）和內部標準SCPI指令的情況下，非常適合作為系統組成部分。

R3764CH-R3764CH-R3764CH愛得萬網絡分析儀技術參數：

測量頻率范圍：40MHz~3.8GHz
用于特定場合的三種類型：
....A型：基本型
....B型：內置電橋型
....C型：內置S參數測試裝置
高速掃描
....0.15毫秒/點（帶有標稱校準）
高速測量：0.15毫秒/點
具有4通道和8跡線的多功能顯示
100dB寬動態范圍
對于掃描中不同RBW和輸出電平的標準程序掃描功能

針對不同應用的可選擇佳系統
    根據你應用需要可以從R3764/3765系列中選擇出佳型號。A型提供了內置信號隔離器和兩個輸入終端，可同時進行兩個器件的測量。將A型連接到選件雙工器測試裝置上，它可以用在手提前部，用三個端口（AND、RX和TX端口）進行雙工器測量。當作為選件功放測試裝置的組成部分時，主機可以修正并可同選件VIGs連用，這樣手提的功放就可以測量了。在這種情況下，A型可以滿足多種應用場合。
    B型裝有功分器和SWR電橋，能夠同時測量傳輸和反射。當使用B型時，通過校準1口就可實現高精度測量。
    C型裝有S參數測試裝置，這種裝置提供了功分器和兩個SWR電橋以及一個用于正向/反向轉換的半導體轉換開關。在自動反向模式中，C型可以高精度測量正向特性（S11和S21）和反向特性（S22和S12）。

作為系統的組成成分
    32字×8行的熒光屏顯示，R3764A/B/C（3.8GHz）

獨立應用
7.8英寸TFT彩色LCD，R3765A/B/C（3.8GHz）
儀器類型 特征 應用 典型應用場合
單極性BPF 多極性BPF 雙工器 功放 2-DUT同時測量 
A型通用模式R3764A，R3765A 測試裝置連接 〇 〇 〇 預處理：介質濾波器 雙工器 SAW濾波器等檢查過程：功放等
B型|Z|測量模式（低成本類型）R3764B,R3765B 內置電橋傳輸反射同時測量 〇 預處理：介質濾波器 雙工器 移動臺天線等檢查過程：移動天線等
C型參數全部測量模式R3764C，R3765C 內置S參數測試裝置正向/反向測量 ○

0.15ms/點的高速掃描
   在電介質濾波器、SAW濾波器、隔離器、環行器、功率放大器、天線和其它電子元件的生產線的測量系統中，產量是一個至關重要的參數。R3764/3765系列能夠實現0.15ms/點（10kHz RBW和歸一化校準）或0.25ms/點    （10kHz RBW和2端口校準）的掃描速度。

具有4通道和8跡線的多功能顯示
   由于具有4通道和8跡線顯示功能，R3765C能夠在直角坐標和極性坐標中用Smith圓圖對2端口器件的四個S參數（S11，S21，S22和S12）同時進行顯示，這樣就便于對測量數據進行快速分析。而且，具有TFT彩色LCD的        R3764/3765系列網絡分析儀通過使用重疊數據顯示和限制線功能可以對數據進行識別。

100dB寬動態范圍
    作為信息和通訊設備用于窄帶和高頻測量時，它內部裝有用于測量電介質和SAW濾波器的更高、更真實性能指標的指令。R3764/3765系列的100dB寬動態范圍（10Hz RBW）非常適合于測試這類電子元件，例如測量通常的波紋和阻帶的失真信號。

針對不同RBW和輸出電平的標準程序掃描功能
    程控掃描功能可以設置掃描頻率以及改變分辨率帶寬和輸出電平。在測量濾波器特性時，通過改變分辨率帶寬和輸出電平可以實現通帶和阻帶中的更快速和更的特性測量。

技術指標

測量功能
...顯示通道：2通道（4跡線）：A型和B型
............4通道（8跡線）：C型
顯示參數：

R3764A/3765A R3764B/3765B 
R3764C/3765C 
A/R，B/R 傳輸，反射傳輸＆反射 S11，S21，S22，S12
S11＆S21，S22＆S12

格式
...直角坐標：對數/線性幅度，相位，群延遲或復雜參數的實部和虛部
............[Z]，R，X：（在阻抗轉換測量中）
............[Y]，G，B：（在導納轉換測量中）
...相位顯示擴展功能
...Smith圖表（只限于R3765）：對數/線性幅度，相位，實部和虛部，R+jX，G+jB
...極性坐標（只限于R3765）：對數/線性幅度，相位，實部和虛部

信號源特性
...測量頻率：
......范圍：40MHz~3.8GHz
......分辨率：1Hz
......精度：±20ppm（25℃±5℃）

...輸出電平：
......范圍：+17dBm~-8 dBm（A型）
.........+7 dBm ~-18 dBm（B型）
.........+10 dBm ~-15 dBm（C型）
....分辨率：0.01dB
....精度：±0.5dB（50MHz，0dBm，25℃±5℃）
....線性度：25℃±5℃
A型 B型 C型
±0.4dB +12 dBm ~-3 dBm +2 dBm ~-13 dBm +5 dBm ~-10 dBm
±0.7dB +17 dBm ~-8 dBm +7 dBm ~-18 dBm +10 dBm ~-15 dBm
平坦度： 2.0dBp-p（25℃±5℃）
輸出阻抗：50歐姆

信號純度：
諧波失真：≥-20dBc（在大輸出時）
非諧波失真：≥25dBc（在大輸出時）
相位噪聲：在10kHz偏差和1Hz帶寬處，-85dBc+20log（f/40MHz）

掃描功能
掃描參數：頻率和信號電平
大掃描范圍：
頻率范圍：40MHz~3.8GHz
信號電平：+17dBm~-8 dBm（A型）
+7 dBm ~-18 dBm（B型）
+10 dBm ~-15 dBm（C型）
范圍設置：STAR/STOP或CENTER/SPAN
掃描類型：線性/對數頻率掃描，部分和目標值頻率掃描，電平掃描，CW（信號頻率）掃描
掃描時間：0.15ms/點（歸一化）
0.25ms/點（2端口同時校準）
小的掃描時間取決于測量格式，誤差修正模式，每點的掃描寬度，測量點的數量和IF帶寬。
測量點：3，6，11，21，51，101，201，301，40
掃描觸發：可由"連續，保持，單一掃描"或"外部觸發"中設置
掃描模式：
雙通道掃描：兩個通道以同樣的頻率范圍進行掃描
不同掃描：兩個通道以不同的掃描類型和不同的頻率范圍進行掃描

接收機特性
分辨率帶寬：10kHz~10Hz

幅度特性
幅度分辨率：0.001dB
動態分辨率：參考低于測試口大輸入電平20dB處
0~-10dB ±0.3dB
-10~-20dB ±0.05dB
-20~-50dB ±0.05dB
-50~-60dB ±0.1dB
-60~-70dB ±0.15dB
-70~-80dB ±0.40dB
-80~-90dB ±1.00dB
測量精度：±0.5dB（-10dBm，25℃±5℃）

相位特性
測量范圍：±180°（相位過± 180°時可以借助于相位顯示擴展功能進行顯示）
相位分辨率：0.01
頻率特性：±5°（25℃±5℃）
動態精度：參考低于測試口大輸入電平20dB處
0~-10dB ±5.0°
-10~-20dB ±0.3°
-20~-50dB ±0.3°
-50~-60dB ±0.4°
-60~-70dB ±1.5°
-70~-80dB ±4.0°
-80~-90dB ±8.0°
群延遲時間特性
范圍：按下列公式計算：
γ=ΔΦ/（360×Δf）
ΔΦ：相位
Δf：孔徑頻率
測量范圍：1ps~250s
群延遲時間分辨率：1ps
孔徑頻率:等于^f。可以A%的分辨率在頻率帶寬的A%~范圍內設置。
A=100/（測量點-1）
精度：相位精度/[360×孔徑頻率（Hz）]

測試端口特性
測試端口回波損耗：25℃±5℃
18dB（40MHz~2.6GHz）
16dB（2.6GHz~3.8GHz）
方向性：25℃±5℃
30dB（40MHz~2.6GHz）
26dB（2.6GHz~3.8GHz）
串音
A/B型 C型
90dB 90dB（40MHz~2.6GHz）
85dB（2.6GHz~3.8GHz）
連接器：N型（f），50歐姆
噪聲電平：測試端口的大輸入電平
-90dBc（3kHz BW）
-100dBc（10kHz BW）
大輸入電平：0dBm（A/B型）
+15dBm（C型）
輸入破壞電平：+20dBm

誤差修正功能
    歸一化：在傳輸和反射測量中，頻率響應（包括幅度和相位）被修正。
    1端口校準：在反射測量中，電橋方向性、頻率響應和源匹配引起的誤差被修正。（在誤差修正中需要短路器、開路器和負載）
    2端口校準：在傳輸和反射測量中，方向性、頻率響應和源匹配引起的誤差、負載匹配、和隔離度被修正。
    數據平均：對每次掃描的數據（矢量）進行平均。平均次數可在2~999范圍內選擇。
    數據平滑功能：在鄰近的測量點間取平均。
    電子長度修正：測量相位和群延遲時間加上相同電子長度或延遲時間。
    相位偏差修正：連續見相位偏差加到測量的相位上

顯示部分
R3764系列：
顯示單元：熒光屏顯象管（綠色）
分辨率：256×64點
顯示模式：字母顯示模式，8行，每行32字母

R3765系列：
顯示單元：7.8英寸TFT彩色LCD
分辨率：640×480
顯示模式：直角LOG/線性坐標，極性坐標，史密斯圖表（阻抗/導納顯示）
測量條件顯示：起始/終止頻率，中心頻率/帶寬，標尺/格，參考電平，光標值，軟按件功能，告警語句
參考線位置：：垂直坐標的上部
0%：內存的底部
自動標尺：參考值和標尺被設置好，這樣測量跡線可以在佳的位置上進行顯示
亮度：黑屏可以打開或關閉

其它功能
光標功能：（僅限于R3765系列）
光標顯示：光標讀數可以轉換成與每次測量格式相關的顯示值。
多光標：每個通道可設置高達10個光標。
Delta光標：10個光標中任一個都可設定為參考光標，這樣就可測量兩個光標間的Delta值。
光標偶合：每個通道光標都可以組合或獨立的形式進行設置。
MKR搜索：MAX（大值）搜索，MIN（小值）搜索，NEXT（下一個）搜索
光標跟蹤：每次掃描都能進行光標跟蹤。 
目標值搜索：用-X dB，中心頻率和Q值計算點的帶寬和用相位0，±X頻率寬度搜索頻率點。
MKR→：MKR→參考值，MKR→START（起始頻率），MKR→STOP（終止頻率），MKR→CENTER（中心頻率）

程控功能
BASIC控制器功能：
標準的控制器功能可以對儀器或通過GPIB接口多其他測量儀器進行控制。
內置功能：借助內置功能可以進行高速數據分析。
FDD功能：符合MS-DOS格式，兼容3種模式（DD 720KB，HD 1.2MB/1.4MB）

系統功能
外部監視器輸出：可接到VGA
GPIB：支持IEEE488.2通用指令和SCPI指令
24位輸入和輸出：TTL電平，8位輸出（2端口），4位輸入/輸出（2端口）
RS232：串行輸入/輸出接口，符合RS-232C接口標準。
外部參考頻率輸入：1，2，5，10MHz，0dBm

一般指標
工作環境：
在使用FDD時：
工作溫度：+5~+40℃
工作濕度：≤80%（非凝結）
在沒使用FDD時：
工作溫度：+0~+50℃
工作濕度：≤80%（非凝結）
存儲環境：-20~+60℃
電源：100~240VAC，48~60Hz
尺寸：近似為424（長）×220（高）×400（寬）mm

R3764CH-R3764CH-R3764CH

R3764CH-R3764CH-R3764CH

R3764BH-R3765BH-R3765BH

R3764CH-R3764CH-R3764CH