Langer探頭P1400/P1500 德國Langer 400/P1500 基于IEC62132-2Langer探頭P1400P1500 德國Langer P1400 基于IEC62132-2標準
應用:
探頭產生一個RF磁場(磁/電)
是用來評估集成電路的抗干擾能力,特別是多極的芯片組,
直接射頻場注射。
探針位置通過間隔環在IC上面規定距離(3或10毫米)
Langer探頭P1400/P1500 德國Langer 400/P1500 基于IEC62132-2應用:
探頭產生一個RF磁場(磁/電)
是用來評估集成電路的抗干擾能力,特別是多極的芯片組,
直接射頻場注射。
探針位置通過間隔環在IC上面規定距離(3或10毫米)
Langer探頭P1400/P1500 德國Langer 400/P1500 基于IEC62132-2應用:
探頭產生一個RF磁場(磁/電)
是用來評估集成電路的抗干擾能力,特別是多極的芯片組,
直接射頻場注射。
探針位置通過間隔環在IC上面規定距離(3或10毫米)
Langer探頭P1400/P1500 德國Langer 400/P1500 基于IEC62132-2應用:
探頭產生一個RF磁場(磁/電)
是用來評估集成電路的抗干擾能力,特別是多極的芯片組,
直接射頻場注射。
探針位置通過間隔環在IC上面規定距離(3或10毫米)
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