供應Langer 靜電場耦合? P331-2? set? ?ESD耦合

Langer ESD 200 ps型場耦合探頭組中包含的場源產生快速電場的和磁場的靜電放電脈沖場（200 ps）。這些場可以確定地、可復現地加載在集成電路上，從而確定集成電路對靜電放電場的抗干擾性。 其背景是扁平元件組和電子設備的靜電放電場抗干擾性。這些設備要經受靜電放電測試（IEC 61000-4-2）。

供應Langer 靜電場耦合? P331-2? set? ?ESD耦合

測試時與扁平元件組耦合的靜電放電干擾會產生除標準靜電放電脈沖場之外的快速電場和磁場（200 ps）。產生的場作用于扁平元件組的表面，并且能穿過集成電路的外殼。若這些場穿過集成電路，則在集成電路中產生干擾過程。 因此除了在集成電路引腳上的與電路耦合的靜電放電干擾之外，磁場和電場對集成電路的影響也是一個很主要的干擾途徑。