TSI CHEMREVEAL LIBS臺式激光誘導擊穿光譜元素分析儀

TSI ChemReveal 是用*的激光誘導擊穿光譜 (庫) 建造的, 是快速分析元素的理想工具，相比其他很多方法更有助于預先篩選，它可為固體材料中幾乎所有元素提供直接化學分析。

產品詳情

TSI ChemReveal臺式LIBS分析儀（激光誘導擊穿光譜儀）可直接分析固體物質中的所有元素，它是一款對未知化學成分的物質進行快速元素分析的理想儀器，也是對樣品進行初篩分析的*解決方案，而且它比傳統的實驗室儀器操作簡單。TSI ChemReveal分析儀可同時分析材料中的有機元素（C,H,O,N）、輕元素（比如Li,B,Be,Na,Mg）和重金屬元素。它具有高分辨率的成像能力，以及電腦控制的全自動樣品臺，可做材料的面掃描分析和厚度剖析--適用于薄膜涂層的化學成分分析。TSI ChemReveal臺式LIBS分析儀主要應用在實驗室中，內置基礎和高級的用戶界面，是固態樣品進行快速元素成分分析的理想解決方案。

TSI ChemReveal? LIBS 臺式分析儀內置*的 TSI ChemLytics? 軟件，能夠支持測試方法的開發，建立定標曲線或數據庫，可對樣品進行定性定量的快速分析，對于*級客戶，我們有ChemLytics Plus?化學計量學軟件，建立多變量模型，用于復雜成分材料的定量分析。

擁有TSI公司強大的全球服務和技術支持體系為保障，以及過 50 年生產制造高品質儀器的良好聲譽， TSI ChemReveal ? LIBS 臺式分析儀是您對固態物質進行元素分析*理想的選擇。

應用

金屬成分分析

金屬牌號識別

藥物

環境

地質

玻璃/陶瓷

納米材料

法醫鑒定

更多應用 ...
 

特點與優勢

寬泛的元素檢測范圍-從Z<12的輕元素（如 C,H,O,N,Li,B,Be）到重金屬元素 

分析速度快-幾秒鐘到幾分鐘 

幾乎不需要樣品處理過程-直接分析固體樣品、顆粒或粉末

比其它的元素分析方法需要更少的樣品，幾乎沒有樣品消耗 

微米級別的厚度剖析和面分布圖 

微米到宏觀分析-定向而靈活的點分析 

定性的樣品分類或者定量的元素含量分析 

可選的不同型號的激光器和探頭，以滿足您不同的應用需求 

 大多數元素的檢出限為可十幾到幾十個ppm量級 

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