通過結(jié)國(guó)外同類產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn),本著實(shí)用、方便、測(cè)試精簡(jiǎn)的宗旨，面向國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)推出的數(shù)字IC參數(shù)測(cè)試儀（并且在不斷地完善之中）。該儀器特別適合，整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測(cè)試。目前，對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試，已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求。數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀，利用獨(dú)創(chuàng)的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。完全可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。是一種性能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試可信度高、成本低廉的測(cè)試儀器。