HP4286A安捷倫4286A精密！設(shè)備LCR測(cè)試儀HP4286A陳娟
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深圳佳捷倫電子儀器有限公司
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主要特性與技術(shù)指標(biāo)
1 MHz至1 GHz，10 kHz步進(jìn)
1％基本精度
高速測(cè)量：15ms
帶有APC-3.5測(cè)試頭的1 m/3 m無(wú)誤差電纜
描述
Agilent 4286A RF LCR表提供、可靠的測(cè)量，以便提高電子元器件或電路設(shè)計(jì)的質(zhì)量和性能。
與反射測(cè)量技術(shù)不同，Keysight 4,286A使用直接的電流電壓測(cè)量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更的阻抗測(cè)量結(jié)果。而且，由于的校準(zhǔn)技術(shù)（典型的Q精度：6％ @ 100 MHz，Q=100），還可以極大地改進(jìn)Q測(cè)量。


HP4286A射頻LCR測(cè)試儀HP 4286A射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供、可靠和快速測(cè)量，以改 進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電 壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行測(cè)量。
 生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠HP4286A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4286A的測(cè)量非常快。此外，在小測(cè) 試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程 非常短。 系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近 ，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或 陣列芯片測(cè)試。
 便于使用8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過(guò)程更為方 便且無(wú)差錯(cuò)。
內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試質(zhì)量和效率的過(guò)程。可選用的LAN接 口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控



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